Уменьшение шага проекции полупроводниковой литографии заставляет более пристально вглядываться в перспективные материалы вплоть до анализа расположения отдельных атомов. С такой задачей обычно справляется сканирующий туннельный микроскоп. Но его возможности не безграничны, и в ряде случаев он не способен различить отдельные атомы, что критично для анализа так называемых дефектов в кристаллических решётках. Учёные из США нашли […]
Архивы за день Март 18th, 2025
Учёные проапгрейдили сканирующий туннельный микроскоп, чтобы подглядывать за атомами кремния
Март 18th, 2025 
raven000 
Опубликовано в рубрике 
